経歴詳細 4／5 2000 – 2017｜Inspec（取締役CTO・上場）
外観検査装置で国内・世界トップシェアへ
すべての製品をゼロから開発。光学設計、電子回路設計、CTO、海外サポートを担当し、 取締役CTOとして上場に導く。TABテープ検査装置（AOI）で世界トップシェアを獲得。
主な開発製品・実績
- リードフレーム検査装置で国内トップシェア——2002年
- 周辺回路も検査可能な世界最高感度のG6・G8向け液晶TFTパターン検査装置を納入——2005年
- 液晶駆動用のTABテープ検査装置（AOI）で世界トップシェア——2006年
- 世界最小線幅（2μm）対応のPCB用パターン検査装置（AOI）を開発——2012年
- 最先端MPUの外観検査装置（AVI）・パターン検査装置でIntelから装置認定を取得——2013年
- 業界最速のRoll to Roll搬送によるフレキシブル基板パターン検査装置を開発——2017年
この時代に蓄積した技術
- 大規模ハードウェアによる画像処理装置の開発——30年以上・通算7世代
- 高感度・低過検出の高精度外観検査アルゴリズム開発
- 光学センシング技術——撮像、照明、白色干渉、LED照明開発、カメラ・レンズ評価
- サブピクセル測長処理による超高分解能パターン検査技術の開発——10年以上
- 検出した欠陥をAIにより自動分類するアルゴリズムの開発