経歴詳細 3／5 1984 – 2000｜Santec（取締役CTO・上場）
世界初の光計測製品を連発、光通信の最前線へ
すべての製品をゼロから開発。光学設計、電子回路設計、プロジェクト総責任者・CTOを担当し、 取締役CTOとして上場に導く。開発した波長可変レーザは、AT&Tベル研究所、BT研究所など 世界中の研究機関に納品され、当時トップシェアを獲得。
主な開発製品・実績
- 世界初の光通信用光ファイバ伝送光分布測定装置を開発（IR画像処理装置の開発を含む）——1984年
- 白色干渉技術を用いた超高精度光路長測定技術によるシステムを開発（半導体ウエハトレンチ深さ測定、高精度膜厚検査装置、光ファイバ波長分散測定装置）
- 光通信用波長可変レーザ光源・周波数安定化光源（安定度0.1ppm以下）を世界初製品化
- 1.3μm帯と1.55μm帯の波長可変レーザを開発。AT&Tベル研究所、BT研究所など世界中の研究機関に販売し、当時トップシェア
- 当時最先端のDRAM向けLF用画像処理装置（IC 3,000個搭載）を開発し、業界標準に——1990年
- 世界標準のMPUパッケージ検査でIntel装置認定を取得。累計50億円以上のセット販売——1997年
- BGA検査装置で国内トップシェアを獲得——1998年。イビデン、新光電気工業の検査指導
この時代に蓄積した技術
- 赤外線ビジコン撮像画像補正技術、リアルタイム画質改善、高精度画像処理技術
- 大規模ハードウェアによる画像処理装置の開発——20年以上
- 外部共振器による波長可変レーザ設計、制御技術、周波数安定化技術
- 高精度アナログ回路設計——高感度センシング、大電流、高電圧、高速パルス 等